代理膜厚测量仪器有哪些 代理膜厚测量仪
XRF镀层测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器,其基本原理如下:X射线发射:XRF镀层测厚仪内置的X射线源发射X射线,X射线穿过待测涂层并作用于样品下方的探测器,X荧光膜厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度...
膜厚测试仪常见故障 filmetrics膜厚测量仪原理
1、测量前,应清除表面上的任何附着物质,如灰尘、油脂和腐蚀产物,但不得清除任何覆盖材料,不应在样品的突变处进行测量,如边缘、孔和内角,不应在样品的曲面上测量,2、准备工作:将X射线荧光膜厚仪放置在平坦的工作台上,确保...