大家好呀！今天小编发现了少子寿命检测仪的有趣问题，来给大家解答一下，别忘了关注本站哦，现在我们开始阅读吧！
单晶的少子寿命与原生多晶硅检测出来的少子寿命有什么关系?
少子寿命是越大越好，就目前的太阳能级硅来说能有5us已经不错了，如果太低（如小于1us）将严重影响电池效率。现在太阳能企业要求越来越高，多晶要求大于2，单晶要求大于10。
寿命低主要和晶棒中的金属杂质含量有关，杂质含量越高，单晶寿命越低。想提高少子寿命，可以从：原料、热场、以及单晶炉上改进。提高原料品质，更换灰分低的热场部件，也可以考虑对部分热场部件进行碳化硅涂层。
即少数载流子寿命。光生电子和空穴从一开始在半导体中产生直到消失的时间称为寿命。载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。
高频光电法测少子寿命对红外光源有什么要求
1、少子寿命是越大越好，就目前的太阳能级硅来说能有5us已经不错了，如果太低（如小于1us）将严重影响电池效率。现在太阳能企业要求越来越高，多晶要求大于2，单晶要求大于10。
2、源发光的光谱特性必须满足检测系统的要求。按检测的任务不同，要求的光谱范围也有所不同，如可见光区、紫外光区、红外光区等等。有时要求连续光谱，有时又要求特定的光谱段。
3、年12月26日 可以的。 如果用可见光作为光源，那么检测的应该是近红外光谱区域(near-IR)。
4、（1）光源的光谱分布与成像系统工作的光谱范围 尽可能相互匹配。（2）启动过程短，即接通电源后应达到稳定的辐射状态。（3）辐射效率高。（4）体积小、重量轻，使用方便，成本低、寿命长。
5、微波光电导衰退法(μ-PCD ，Microwave photoconductivity decay)测试少子寿命，主要包括激光注入产生电子-空穴对和微波探测信号这两个过程。
北京海瑞克科技发展有限公司的硅片及硅料测试设备
测试范围广：包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命测量。
硅片强度测试仪1激光椭偏仪1太阳能电池量子效率测试系统太阳能电池I-V特性测量系统北京海瑞克科技发展有限公司提供全套检测设备。
简介：北京海瑞克科技发展有限公司创建于2007年，是由多名海外留学人员共同组建的高科技企业。
EL测试仪的工作原理和成像原理是什么
太阳能电池组件缺陷检测（EL）全自动测试仪利用晶体硅的电池发光原理，利用高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。
EL测试仪（电致发光），给组件通反向电压，通过专用相机拍摄组件图片，暗色部分可以看到隐裂，PID，二极管导通等情况。
是由群菱公司专业生产，为了满足电站EL现场测试的需要，具有完全 自主知识产权 核心技术 ，本产品摒弃了传统EL 检测设备 的笨重 外壳 ，方便携带，易于安装，可在各类复杂现场条件下进行测试，快速诊断 光伏组件 的EL缺陷。
小伙伴们，上文介绍少子寿命检测仪的内容，你了解清楚吗？希望对你有所帮助，任何问题可以给我留言，让我们下期再见吧。
